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| ☆☆☆低压化成箔规格☆☆☆ |
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项目 |
规 格 |
试验方法 |
静电容量(C) |
1. 容量允许偏差：标称值的-10～+15%
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| 2. 容量离散率= |
≤14% |
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静电容量试验法 |
上升时间（Tr） |
Tr < (0.5vf+60) s
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氧化膜耐压试验法 |
氧化膜耐压值（Vt） |
Vt ≥Vf |
氧化膜耐压试验法 |
箔面残留
氯离子浓度(CL-) |
≤1.0mg/m2 |
氯离子残留量试验法 |
抗拉强度(Te.S) |
见表2、3 |
抗拉强度试验法 |
折弯强度(Be.S) |
见表2、3 |
折弯强度试验法 |
耐水性(Tr60) |
按试验方法试验后，Tr60≤90s |
耐水性试验法 |
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